菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDLM237采用能量色散 X 射线荧光（EDXRF），无损测量镀层厚度与多元素成分；自上而下的测量方向，适配不平整小零件；结合菲希尔DCM 距离补偿，可简化不同高度 / 距离的样品测量。

标配WinFTM® 专业软件，符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 标准；具备基本参数法（FP），无需标准样也可做定量分析。

与同系列 231（平面台 + 电动 Z）、232（手动 XY + 电动 Z）的核心区别：防护盖开启时 XY 台自动移出至装卸位，实现批量自动化测量。

关键硬件参数

X 射线源：微聚焦钨靶射线管（铍窗）；高压三档可调：10/30/50 kV；3 种电动切换初级滤片（Ni、Al、无滤片）；4 种准直器（0.1 mm、0.3 mm、0.6 mm、0.5×0.15 mm 狭缝），最小测量光斑约 0.1 mm

探测器：比例计数管（Proportional Counter），兼顾速度与灵敏度；测量距离 0–80 mm，DCM 补偿

样品台：电动可编程 XY+Z；行程 XY 255×235 mm，Z 140 mm；移动速度 80 mm/s；XY 单向重复精度≤0.01 mm；样品高度 140 mm，样品重量 5 kg（降精度可用至 20 kg）

定位系统：集成带变焦（1×/2×/3×/4×）的 CCD 彩色视频显微镜 + 1 级激光指示；十字线带标定标尺，可调 LED 照明

元素范围：Al（13）~U（92），可同时分析最多 24 种元素

电气与尺寸：电源 115/230 V 50/60 Hz；功耗≤120 W（不含电脑）；防护等级 IP40；外部尺寸 570×760×650 mm；重量约 120 kg；带 C 型槽的防护罩可测超大平板（如 PCB）