Couloscope CMS2库仑测厚仪
这个系列仪器根据 DIN EN ISO 2177 标准的库仑法。金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件下电解腐蚀--------实际上就是电镀的反过程。所载入的电流与要剥离的镀层厚度是成正比的，假如电流和剥离面积保持不变，镀层厚度与电解时间就是成正比的关系

Couloscope CMS2库仑测厚仪

Couloscope CMS2库仑测厚仪

这个系列仪器根据 DIN EN ISO 2177 标准的库仑法。金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件下电解腐蚀--------实际上就是电镀的反过程。所载入的电流与要剥离的镀层厚度是成正比的，假如电流和剥离面积保持不变，镀层厚度与电解时间就是成正比的关系。

COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地，库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 CSM2 STEP版本，用于单层标准的STEP测试测量，并检测潜在的差异，例如在镍多层质量控制中。同时测量涂层厚度和电化学电位根据库仑法。

主要特征：
1.使用高精度电解脱镀技术（库仑法）测量多层
2.易于操作的显示和图形支持的用户指导
3.普遍适用于金属和非金属基材的测量，也适用于多层涂料
4.通过全面的附件组合适应具体要求
5.单涂层和多涂层系统的测量
6.图形显示，用于清晰的测量视图，设定的涂层系统以及脱模速率和测试区域尺寸等参数。
7.液晶显示屏上电池电压的图形显示。
8.大多数金属涂层的许多预定义的测量应用
9.可选择的测量单位：μm或mils
10.欧洲，南美和亚洲的显示语言

应用：

• 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层

• 单层或多层的镀层厚度测量

• 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量

• 适用于 0.05 μm 至 40 μm 的镀层厚度测量