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Couloscope CMS2库仑测厚仪

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Couloscope CMS2库仑测厚仪

Couloscope CMS2库仑测厚仪

这个系列仪器根据 DIN EN ISO 2177 标准的库仑法。金属或非金属基材上的金属镀层,通过在控制电流条件下电解腐蚀--------实际上就是电镀的反过程。所载入的电流与要剥离的镀层厚度是成正比的,假如电流和剥离面积保持不变,镀层厚度与电解时间就是成正比的关系。

 

COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地,库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 CSM2 STEP版本,用于单层标准的STEP测试测量,并检测潜在的差异,例如在镍多层质量控制中。同时测量涂层厚度和电化学电位根据库仑法。

主要特征:
1.使用高精度电解脱镀技术(库仑法)测量多层
2.易于操作的显示和图形支持的用户指导
3.普遍适用于金属和非金属基材的测量,也适用于多层涂料
4.通过全面的附件组合适应具体要求
5.单涂层和多涂层系统的测量
6.图形显示,用于清晰的测量视图,设定的涂层系统以及脱模速率和测试区域尺寸等参数。
7.液晶显示屏上电池电压的图形显示。
8.大多数金属涂层的许多预定义的测量应用
9.可选择的测量单位:μm或mils
10.欧洲,南美和亚洲的显示语言

应用:

  • 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
  • 单层或多层的镀层厚度测量
  • 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
  • 适用于 0.05 μm 至 40 μm 的镀层厚度测量

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