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Surtronic S116泰勒粗糙度仪笃挚上海供应

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Surtronic S116泰勒粗糙度仪笃挚上海供应


1、简

Surtronic S116泰勒粗糙度仪是Surtronic S100 系列的标准产品,坚固耐用,性能优越的表面粗糙度测量仪,因为体型小巧便于重量轻,所以方便携带。Surtronic S116泰勒粗糙度仪可以在任何表面, 任何高度进行测量,配备的4.3寸大尺寸触屏,容量大,显示信息一目了然,操作方便且智能, 一页上可显示多至7个参数。包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件,在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下, 对挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量


Surtronic S116


2、

数据显示 :

显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果

数据存储

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘zui大4G,zui多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源:

充电器

USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间

4小时

电池寿命

充电一次可以做2000次测试

待机时间

5000小时,由待机状态到开机测试状态,zui长时间不超过1秒I

自动关机

30秒– 6小时可以自行设置

技术指标

测量范围

400 um 100 um 10 um

分辨率

50 nm 20 nm 5 nm

底噪(Ra

150 nm 100 nm 50 nm

重复精度 (Ra)

1%测试值+底噪

传感器原

电感

测量力

50-300mg

测针针尖半径

标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式

滑动扫描

自动软件校准

标准:ISO4287

测试参数

三个取样长度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器

2CR、Gaussian

评定长度

0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

zui大行程

17.5mm

测试速度

测试速度

1mm/sec(0.04 in/sec)


回程速度

1.5mm/sec(0.06in/sec)

执行标准

ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

ASME标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

ASME标准可以测量13个参数

R3z (Daimler Benz)

ASME标准可以测量14个参数

um/uin

Surtronic S116泰勒粗糙度仪笃挚上海供应

3、功能特点

  • 一个50mm长的测针升降装置和直角附件

  • 360度任意旋转,任何方向任何高度测量

  • 轻触快捷键即可进行所有关键设置。

  • 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。

  • A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。

  • 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。

  • 测针还能够反方向底部测量


泰勒霍普森采用先进的测量技术进而提供了市场型的计量仪器,适用于表面粗糙度、形状和三维轮廓测量等,可满足挑战性的应用的需求。



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