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尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪*

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尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪*

优点:
德国尼克斯QNix8500膜层测厚仪只需调零,无需校准
测量精度高
一体分体通用
可配多种探头
中英文菜单操作
智能化
带存储,并可连计算机对数据进行处理分析
德国尼克斯QNix8500膜层测厚仪可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度测量,误差小于±3um


可选探头:
Fe铁基探头:    0-2000μm    0-5000μm
NFe非铁基探头:  0-2000μm    0-5000μm
NFe/Fe两用探头:0-2000μm    0-5000μm
无线传输探头
薄镀层探头


德国尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪可通过更换探头来满足不同的测量需求,可存储数据,并且可与计算机进行无线传输。探头可直接与主机连接,进行一体化测量,也可通过探头电缆线来与主机连接,进行分体测量。分体测量操作简单,可很大程度上避免误操作产生的误差。德国尼克斯 QNix 8500膜层测厚仪测厚仪主机通用,探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头,探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种,用户在购买该产品时要根据需求选购合适的探头,如有不明白的地方敬请。

 

 

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