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菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-04-21
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产品详情

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

一、仪器概述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。该仪器具备*功能,可用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,还能对大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层进行检测。

二、性能优势

  1. 稳定性佳:XDL 230 拥有良好的长期稳定性,无需频繁校准仪器,为用户节省时间与精力。

  2. 测量精准:比例接收器能够实现高计数率,从而保障高精度测量,确保数据的可靠性。

  3. 测量灵活:采用 FISCHER 基本参数法,无论是镀层系统,还是固体和液体样品,在没有标准片的情况下,仪器都能进行测量和分析。

    三、适用场景

    菲希尔X射线测厚仪XDL 230 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控,其典型应用领域如下:

    • 测量大规模生产的电镀部件;

    • 测量超薄镀层,例如装饰铬;

    • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;

    • 测量印刷线路板;

    • 分析电镀溶液。

    菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230


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