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菲希尔、库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP

COULOSCOPE CMS2 STEP,镀层厚度测量(库仑法)
遵循 DIN EN ISO 2177
工件作为阳极,电解液受控电解逐层剥离镀层;恒定电流下,剥离时间与镀层厚度成正比。属于破坏性单点测试。

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  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2026-07-22
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产品详情

COULOSCOPE CMS2 STEP

菲希尔库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP测量原理

镀层厚度测量(库仑法)

遵循 DIN EN ISO 2177

工件作为阳极,电解液受控电解逐层剥离镀层;恒定电流下,剥离时间与镀层厚度成正比。属于破坏性单点测试。

STEP 测试(CMS2 STEP )

遵循 ASTM B764、DIN 50022、ISO 16866

内置 AgCl 银参比电极,剥离过程实时采集电位曲线;

电位突变点 = 镀层分界面 → 自动区分半光镍 / 高硫镍 / 光亮镍,输出:每层厚度 + 层间电位差(评估多层镍防腐能力的关键指标)。

核心技术参数

测量范围:0.02 ~ 50 μm(依镀层体系、退镀速度而定)

退镀速度:0.1 ~ 50 μm/min 连续可调

测量垫圈直径:0.6 ~ 3.2 mm(多种密封圈可选)

存储:50 组测量程序,最多 3000 条测量数据

接口:USB,数据导出至电脑

显示:彩色液晶屏,实时绘制电位 - 时间曲线

单位:μm /mil 切换、多语言操作界面


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