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minitest 730 f15 0-15mm大量程测厚仪

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minitest 730 f15 0-15mm大量程测厚仪

minitest 730已经被minitest 735取代

 

MiniTest 700按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720。730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。
F15大量程探头。测量范围非常广,高达0-15mm,适用于测量非常厚的涂层。测量原理为磁感应原理,精度±(5μm+0.75%读值),重复性±(2.5μm+0.5%读值)。低端分辨率1μm,最小曲率半径5(凸)mm,最小曲率半径(凹,外置探头)25mm,最小曲率半径(凹,内置探头)30mm,测量面积Φ25mm,最小基体厚度1mm。minitest 730 f15 0-15mm大量程测厚仪

 

有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高精确度和高重现性带给您的优势和便利。新的MiniTest 700可以解决您所有涂层厚度问题,而产品优质的外观是您长期价值和成功的关键,比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑,或电镀等行业。

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪
-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性
-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

 

MINITEST720/730/740涂层测厚仪优点一览:

  • -SIDSP使测量不受干扰,测值更加精确
  • -可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
  • -FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
  • -温度补偿功能避免温度变化引起的错误
  • -生产过程中50点校准使仪器获得高精确度的特征曲线
  • -大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
  • -读数和统计值能单独调出
  • -超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
  • -菜单指引操作,25种语言可选
  • -带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
  • -可下载更新软件

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪主机
型号 特性MINITEST 720MINITEST 730MINITEST 740
探头类型内置外置内置外置可换
数据记忆组数10 10 100
存储数据量 最多10,000个 最多10,000个 最多100,000个
统计值读值个数,最小值,最大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)
校准程序符合国际标准和规范ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准
校准模式出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值
极限值监控声、光报警提示超过极限
测量单位um,mm,cm;mils,inch,thou
操作温度-10℃-60℃
存放温度-20℃-70℃
数据接口IrDA 1.0(红外接口)
电源2节AA电池
标准DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2
体积157mm x 75.5mm x 49mm
重量约175g 约210g  约175g(内置)/230g(外置)

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪探头:

探头 特性

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)

精确度

±(1μm+0.75%读值)

±(1.5μm+0.75%读值)

±(5μm+0.75%读值)

重复性

±(0.5μm+0.5%读值)

±(0.8μm+0.5%读值)

±(2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

最小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

最小曲率半径(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

最小曲率半径(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

最小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

最小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

,

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下最大测量速度

每分钟70个读数

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