菲希尔X射线XULM测厚仪适用领域特点 适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点最小可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。

菲希尔X射线荧光测厚仪XUL小型台式 射线管出射点稍大，非常适合测量点在1mm以上的应用

菲希尔Fischer测厚仪XUL220/X射线 x射线荧光镀层测厚及材料分析仪，用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希尔X射线，FISCHER X射线测厚仪，菲希尔镀层测厚仪。

菲希尔FISCHERSCOPE X-RAY XAN500，菲希尔代理，FISCHER测厚仪，菲希尔X射线测厚仪

Fischer菲希尔DualScope FMP20膜厚仪测厚仪 DualScope FMP20两用法涂镀层测厚仪 能够测量铁/钢和非铁磁金属以及非导电材料上的许多涂层。根据您的测量应用，您可以根据磁感应法，涡流法或根据两种方法组合在一台仪器中进行的涂层厚度测量。

库伦法测厚仪COULOSCOPE CMS2 STEP，菲希尔测厚仪，FISCHER库伦法测厚仪，FISCHER

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德国菲希尔 (Fischer) 公司 XDL 系列中一款高性价比的台式能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 镀层测厚及材料分析仪，专为质量控制、进料检验和生产流程监控设计，采用从上往下的测量方向，配备手动 XY 工作台和电动 Z 轴系统。