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Couloscope CMS2 STEP库仑法多镀层测厚仪

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Couloscope CMS2 STEP库仑法多镀层测厚仪

Couloscope CMS2 STEP库仑法多镀层测厚仪

COULOSCOPE CMS2 STEP库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18测量印刷线路板上剩余纯锡的厚度,库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。这个方法主要应用于检查电镀层的质量,现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。

COULOSCOPE® CMS2 STEP库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差
 使用COULOSCOPE CMS2和支架V18测量印刷线路板上剩余纯锡的厚度,库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。这个方法主要应用于检查电镀层的质量,现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。
 COULOSCOPE® CMS2 STEP
 CMS2 STEP 的特征是STEP测试功能(同时测定厚度和电位差)。 在多层镍的质量监控中用于对镀层厚度和电位差的标准化STEP测试 (根据ASTM B764-94和DIN 50022)。镀层厚度根据库仑法得出, 而电位差则由一个镀有AgCl的银电极得到。
 COULOSCOPE® CMS2
 CMS2可以测量几乎所有基材上金属镀层的厚度,包括多镀层结构; 它的工作原理是根据阳极溶解的库仑法 (DIN EN ISO 2177)。 简单的操作和菜单化的操作指导使CMS2成为电镀行业生产监控和质量检验理想的解决方法。设备为不同的镀层结构配备了近100个预留的应用程式(例如,铁上镀锌,黄铜上镀镍), 以及各种电解速度(例如1, 2, 5, and 10 μm/min)。这些应用程式适用于多镀层系统。
 COULOSCOPE® CMS2的特征
 大尺寸高分辨率的彩色显示器
 简单的操作和图示的用户指导
 使用V18支架实现半自动化测量
 电解速度和测量面积的简单选择 (0.1 ----- 50 μm/min) 和(0.6 ----- 3.2 mm Ø)
 电压曲线图形显示
 图形和统计分析 多语言和计量单位可供选择
 COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
 同时测量镀层厚度和电位差
 银参比电极的简单准备
 可调节的电解电流
 COULOSCOPE® CMS2 STEP库仑法测量镀层厚度和多层镍电位系统概述 一个测量系统包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一个有测量槽的支架(例如:STEP测量槽)。各种测量台设计适合不同的应用。 可选配件 大量的可选配件使测量工作更便利,确保了安全的储存并为固定工件提供辅助。
 
 校准 校准时会产生一个修正系数 。这是由于测量槽密封垫子的制造公差、镀层密度的变化、合金成分的变化,需要该修正系数。 

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