泰勒粗糙度仪DUO信息

更新时间：2025-05-26

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在测量效率与精准度方面，英国泰勒霍普森粗糙度仪 DUO 表现很好。其多参数测量功能堪称规范，用户仅需一键操作，便能同步获取 Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（轮廓最大高度）、Rp（轮廓最大峰高）、Rv（轮廓最大谷深）和 Rt（轮廓总高度）等核心参数，能剖析被测表面的粗糙度特征，为质量把控提供详实数据支撑。

测量范围上，DUO 展现出*的兼容性与适应性。Ra 量程覆盖 0.01μm-40μm，Rz、Rp、Rv、Rt 可达 0.1μm-199μm，搭配 200μm 的传感器范围与 5mm 行程，无论是精密零件的微观表面检测，还是大型工件的宏观轮廓评估，都能轻松胜任，满足多样化的高精度测量需求。

谈及测量精度，DUO 凭借 0.01μm 的超高分辨率，将 Ra 精度控制在 0.01μm、Rz 精度达 0.1μm，测量误差仅为读数的 5%+0.1μm，重复性误差保持在值的 2%+ 噪声水平。这般严苛的精度标准，确保每一次测量数据都真实可靠，为生产制造与质量检测筑牢精确根基。

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