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泰勒粗糙度仪DUO信息
更新时间:2025-05-26 点击次数:102次
在测量效率与精准度方面,英国泰勒霍普森粗糙度仪 DUO 表现很好。其多参数测量功能堪称规范,用户仅需一键操作,便能同步获取 Ra(轮廓算术平均偏差)、Rz(轮廓最大高度)、Rp(轮廓最大峰高)、Rv(轮廓最大谷深)和 Rt(轮廓总高度)等核心参数,能剖析被测表面的粗糙度特征,为质量把控提供详实数据支撑。
测量范围上,DUO 展现出强大的兼容性与适应性。Ra 量程覆盖 0.01μm-40μm,Rz、Rp、Rv、Rt 可达 0.1μm-199μm,搭配 200μm 的传感器范围与 5mm 行程,无论是精密零件的微观表面检测,还是大型工件的宏观轮廓评估,都能轻松胜任,满足多样化的高精度测量需求。
谈及测量精度,DUO 凭借 0.01μm 的超高分辨率,将 Ra 精度控制在 0.01μm、Rz 精度达 0.1μm,测量误差仅为读数的 5%+0.1μm,重复性误差保持在值的 2%+ 噪声水平。这般严苛的精度标准,确保每一次测量数据都真实可靠,为生产制造与质量检测筑牢精确根基。