QuaNix 4500测厚仪

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QuaNix 4500测厚仪

测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

QuaNix 4500测厚仪特点：

1.只需调零、无需校准
2.Fe/NFe两用探头
3.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪一体化设计
4.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪自动开关机

QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪技术参数
型号	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基体	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探头形式	一体				一体、分体	无线分体
显示	LCD数字显示
测量范围	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
测量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
显示精度	0.1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作温度	－10 －＋60℃
温度补偿	0－50℃
存储	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900个测量值，999个数据组
数据传输	－			RS232打印、电脑
统计功能	－			平均值、zui大值、zui小值、标准偏差
超限报警	－					上下限
zui小基体	10mm×10mm
zui小曲率	凸、凹半径：3mm/25mm		凸半径：5mm，凹半径：25mm
zui薄基体	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电源	5号电池2节		9V碱性电池1节			5号电池2节
重量	110g		130g		150g	130g
尺寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm

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