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QuaNix 4500测厚仪

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QuaNix 4500测厚仪

 

测量原理

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样,涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。

采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

 


QuaNix 4500测厚仪特点:

1.只需调零、无需校准 
2.Fe/NFe两用探头 
3.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪一体化设计 
4.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪自动开关机 

QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪技术参数

型 号

4200

4500

120015007500keyless
基 体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFe

Fe/NFe

探头形式一体一体、分体

无线分体

显 示LCD数字显示
测量范围0-3000μmFe:0-3000μm

NFe:0-2000μm

0-2000μm0-5000μm0-2000μm

0-5000μm

0-5000μm
测量精度0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,

2000-5000μm≤±3%

显示精度0.1μm0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度-10 - +60℃
温度补偿0-50℃
存 储1500M型7500M型

keylessM型

 3900个测量值,999个数据组
数据传输RS232打印、电脑
统计功能平均值、zui大值、zui小值、标准偏差
超限报警

上下限

zui小基体10mm×10mm
zui小曲率凸、凹半径:3mm/25mm凸半径:5mm,凹半径:25mm
zui薄基体Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电 源5号电池2节9V碱性电池1节

5号电池2节

重 量110g130g150g

130g

尺 寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm
 

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