FISCHER荧光射线测厚仪XDLM237信息

更新时间：2025-07-16

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菲希尔X射线测厚仪FISCHER代理XDLM237测量方向：测量方向为自上而下，可方便地分析不平整的样品，也可进行自动测量。

探测器：配备比例计数管探测器，测量时间短，对于很小的测量点，也能因较大的接收面积获得足够高的计数率，确保良好的重复精度。

射线管：采用带玻璃窗口和钨靶的 X 射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦 X 射线管，最高工作条件为 50KV，50W。

准直器与滤片：带有 4 个可切换准直器和 3 种可切换的基本滤片，可灵活适应不同测量需求。

样品兼容性：样品高度可达 140 毫米，测量距离为 0-80mm，不仅可以测量平面平整的物体，也可以测量形状复杂的大样品。

定位辅助：配有 XY 工作台的型号上，激光指示器可作为定位辅助工具，带变焦和十字准线的集成视频摄像头可快速对准样品并精确定位测量点。当保护门开启时，XY 工作台会自动移到放置样品的位置。

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