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FISCHER X射线测厚仪XDL230

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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心特点

灵活测量能力

DCM 距离补偿技术,可在不同距离下简化测量

电动 Z 轴配合手动 XY 工作台,轻松定位复杂样品测量点

视频显微镜带自动聚焦和十字线,精确指示测量位置

高精度与稳定性

基本参数法,无需标准片即可获得可靠结果

比例接收器提供高计数率,确保亚微米级测量精度

长期稳定性好,减少校准频率,降低使用成本

操作便捷性

WinFTM专业软件,直观界面,支持数据计算、报表生成与导出

测量门开启时工作台自动移动至加载位置,激光点指示测量点

侧面 C 形槽设计,可测量比测量箱更大的扁平样品 (如大型 PCB)


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