菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心特点
灵活测量能力
DCM 距离补偿技术,可在不同距离下简化测量
电动 Z 轴配合手动 XY 工作台,轻松定位复杂样品测量点
视频显微镜带自动聚焦和十字线,精确指示测量位置
高精度与稳定性
基本参数法,无需标准片即可获得可靠结果
比例接收器提供高计数率,确保亚微米级测量精度
长期稳定性好,减少校准频率,降低使用成本
操作便捷性
WinFTM专业软件,直观界面,支持数据计算、报表生成与导出
测量门开启时工作台自动移动至加载位置,激光点指示测量点
侧面 C 形槽设计,可测量比测量箱更大的扁平样品 (如大型 PCB)