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更新时间：2025-08-20 
浏览次数：647德国费希尔 X 射线荧光测厚仪 XULM240，是一款在材料检测领域备受瞩目的精密仪器。
它配备微聚焦 X 射线管，焦点尺寸≤50μm，配合可电动切换的准直器，最小测量点直径仅 0.1mm ，能精准测量半导体芯片金线镀层、精密传感器电极等微型结构。其比例计数器探测器实现高计数率，结合费希尔基本参数法，无需标准片即可完成高精度测量，如 80nm 金镀层的重复精度可达 2.5nm ，镀层厚度测量精度达纳米级。
XULM240 还内置 500 万像素彩色视频显微镜，支持 38x - 184x 光学变焦，可实时观察样品表面细节并标记测量区域，定位精度达 ±0.005mm 。通过 WinFTM® 软件，能预设测量程序（最多 100 组），进行数据统计分析并生成报告，满足 ISO 9001 等质量管理体系要求。
在应用上，它适用于线路板行业 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等镀层测量；电子行业接插件和触点的镀层测量；装饰性镀层 Cr/Ni/Cu/ABS 测量；批量生产部件（螺丝和螺母）防腐镀层如 Zn/Fe、ZnNi/Fe 测量；珠宝和手表行业以及测定电镀槽中的金属含量等领域，为各行业的质量管控与生产过程控制提供有力支持。
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