菲希尔Fischer测厚仪XUL220/X射线

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菲希尔Fischer测厚仪XUL220/X射线

x射线荧光镀层测厚及材料分析仪，用于无损测量镀层厚度及分析材料成分

常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

典型的应用领域有:

·在小部件，如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

·在连接器和电气元件上的测量

·电镀液的溶液成分分析

比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 仪器一样，本款仪器有着出色的精确性以及长期的稳定性，这样就显著减少了校准仪器所需的时间和精力。

依靠FISCHER的基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固、液态样品的成分及测量样品的镀层厚度。