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菲希尔XDL230

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菲希尔XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔台式镀层测厚及材料分析仪技术说明

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230创新设计理念】
本仪器采用人性化操作界面设计,配备三轴精密定位系统:手动X-Y工作台与电动Z轴协同运作,结合高分辨率彩色视频显微系统(集成十字线瞄准功能),可实现测量点亚微米级精确定位。创新视频观察窗口支持实时监测测量进程,测量仓底部特殊开槽设计突破传统尺寸限制,可容纳长宽超出台体的大型扁平样品(如整块PCB电路板),显著扩展工业应用场景。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心检测性能】
检测原理:能量色散型X射线荧光光谱(EDXRF)
元素覆盖:氯(Cl-17)至铀(U-92)分析
多元素检测:通过WinFTM BASIC软件扩展,支持24元素同步测定
测量方向:垂直向下非接触检测
分辨率极限:超薄镀层(纳米级)与复杂溶液体系精准分析

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230精密检测系统】
X射线源配置:

  • 钨靶X射线管(铍窗透射)

  • 智能三档高压输出:30kV/40kV/50kV可调

  • 多规格准直器可选:
    ▫ 标准0.3mm孔径
    ▫ 可选0.1mm/0.2mm微孔
    ▫ 0.3×0.05mm矩形微束

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