菲希尔XDL230，菲希尔X射线测厚仪，FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，FISCHER便携式测厚仪

菲希尔XDL230

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230菲希尔台式镀层测厚及材料分析仪技术说明

【菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230创新设计理念】
本仪器采用人性化操作界面设计，配备三轴精密定位系统：手动X-Y工作台与电动Z轴协同运作，结合高分辨率彩色视频显微系统（集成十字线瞄准功能），可实现测量点亚微米级精确定位。创新视频观察窗口支持实时监测测量进程，测量仓底部特殊开槽设计突破传统尺寸限制，可容纳长宽超出台体的大型扁平样品（如整块PCB电路板），显著扩展工业应用场景。

【菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心检测性能】
检测原理：能量色散型X射线荧光光谱（EDXRF）
元素覆盖：氯（Cl-17）至铀（U-92）分析
多元素检测：通过WinFTM BASIC软件扩展，支持24元素同步测定
测量方向：垂直向下非接触检测
分辨率极限：超薄镀层（纳米级）与复杂溶液体系精准分析

【菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL230精密检测系统】
X射线源配置：

• 钨靶X射线管（铍窗透射）

• 智能三档高压输出：30kV/40kV/50kV可调

• 多规格准直器可选：
  ▫ 标准0.3mm孔径
  ▫ 可选0.1mm/0.2mm微孔
  ▫ 0.3×0.05mm矩形微束