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德国EPK代理现货MiniTest 720测厚仪

SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿
由于使用了EPK特殊的自动补偿方法，SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料，如铜，钛，等等，无需特别在基体上校准仪器。

Name: 德国EPK代理现货MiniTest 720测厚仪
Brand: ElektroPhysik/德国EPK
Availability: InStock

联系电话：021-58951091

产品详情

德国EPK代理现货MiniTest 720测厚仪

SIDSP技术详解

MiniTest 720/730/740涂层测厚仪

-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的性

-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错

德国EPK代理现货MiniTest 720测厚仪
SIDSP探头

探头特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
测量范围	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范围	小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理	磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理	探头内部32位信号处理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%读值）		±（1.5μm+0.75%读值）			±（5μm+0.75%读值）
重复性	±（0.5μm+0.5%读值）		±（0.8μm+0.5%读值）			±（2.5μm+0.5%读值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半径（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半径（凹，外置探头）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半径（凹，内置探头）	30mm		30mm			30mm
zui小测量面积	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基体厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速度	每秒20个读数
单值模式下zui大测量速度	每分钟70个读数

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SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿由于使用了EPK特殊的自动补偿方法，SIDSP电涡流探头可以适应多种导电性不同的非铁基体材料，如铜，钛，等等，无需特别在基体上校准仪器。