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德国EPK MiniTest720/730/740系列涂层测厚仪原厂处理

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德国EPK MiniTest720/730/740系列涂层测厚仪原厂处理
MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
1创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性
2测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用
3 FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

德国EPK MiniTest720/730/740系列涂层测厚仪原厂处理

SIDSP技术-技术,智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据*技术生产。

MINITEST 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

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