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elektrophysik测厚仪

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elektrophysik测厚仪MiniTest740

                   

为了质量控制和检验的灵活性,MiniTest740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。SIDSP探头具有*的抗干扰性、SIDSP-测量信号高稳定性、预设选项节省您的时间和金钱、SIDSP探头对温度变化不敏感、SIDSP探头适应性强、SIDSP N和FN型探头基体导电性补偿。

 

elektrophysik测厚仪MiniTest740主机参数


型号 
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

zui多10,000个

zui多10,000个

zui多100,000个

统计值

读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合标准和规范

ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

um,mm,cm;mils,inch,thou

操作温度

-10℃-60℃

存放温度

-20℃-70℃

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g(内置)/230g(外置)

MiniTest740主特点

--创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性

-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

 

 

笃挚仪器(上海)有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业,用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能,推动着先进制造技术的精益求精。

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