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ELEKTROPHYSIK MiniTest740测厚仪概况

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ELEKTROPHYSIK MiniTest740测厚仪概况

 

-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的性

-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用

-FN探头自动识别F(铁磁性)或N(非磁性)基体,操作方便不易出错

 

SIDSP技术-技术,智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势

MiniTest740测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,先进的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。

MiniTest740测厚仪SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

 

MiniTest740测厚仪为什么选择SIDSP?
SIDSP探头具有*的抗干扰性
任何与测量相关的信号,都由SIDSP在靠近探头顶部的位置进行处理。测量信号不会通过探头电缆传输时受到干扰,因为不再有测量信号的传输。探头电缆仅仅为探头供电,并传输数字化的厚度值到显示装置。即使您的测量工件需要特别长的电缆线也没问题,加长的电缆线同样具有*的抗干扰能力。

SIDSP-测量信号高稳定性
EPK的SIDSP探头具有*的重现性。将探头放在同一测量点测量几次,每次您都可以得到基本一样的结果,再次证明了SIDSP探头的性能。

SIDSP探头对温度变化不敏感。

在生产过程中,对每个SIDSP探头都进行了温度补偿的编码,这对于模拟探头是根本不可能实现的。这样温度改变就不会影响测量,与温度相关的错误不会在SIDSP探头上发生

SIDSP探头适应性强

需要快速测量几个点吗?只要开启快速测量模式,探头自动转换到特定设置。想进行高精度测量吗?没问题,只要选择高精度模式,仪器同样能自动转换。不论您要求测量单个数值还是连续测量,SIDSP都能完成您的选择!

 

优点一览

SIDSP使测量不受干扰,测值更加
-可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件

 

ELEKTROPHYSIK MiniTest740测厚仪概况


型号 
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

zui多10,000个

zui多10,000个

zui多100,000个

统计值

读值个数,zui小值,zui大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合标准和规范

ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准零点校准2点校准3点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

um,mm,cm;mils,inch,thou

          

操作温度

-10℃-60℃

存放温度

-20℃-70℃

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2节AA电池

标准

DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840
ASTM B244,B499,D7091,E376
AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

约175g

约210g

约175g(内置)/230g(外置)

 

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:张磊

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