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GalvanoTest 库伦法测厚仪产品信息

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GalvanoTest 库伦法测厚仪产品信息

 

GalvanoTest 库伦法测厚仪产品信息

测量原理:
基于法拉第定律的原理,GalvanoTest执行样品的限定区域的电解溶解。 测量单元填充有特别适合于所选择的涂层/基底组合的电解质。 将测量池放置在测试样品上。 插入电池和测试样品之间的垫圈防止溶液流出,同时地确定待去电镀的区域,例如。 1 mm2。 设备现在可以使用,可以插入电子测量仪。 通过电解质的电流使用电化学反应溶解涂层的预定区域。 一旦蚀刻完成,电压的特性变化自动停止除镀过程,并且涂层厚度以微米或密耳显示在数字显示器

上。

    

德国EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层厚度。
可以测量70种以上镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件

预置9种金属的测量参数:Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。

用户可另设置1种金属的测量参数

 

EPK GalvanoTest 库伦法测厚仪,通用涂层测厚仪:

•几乎测量任何电镀涂层/基底组合

•适用于单层和多层涂层

•使用库仑法原理,符合DIN 50 955和ISO 2177的去镀方法也适用于0.05微米的极薄涂层

库仑或阳极去镀技术用于测量几乎所有基材如钢,有色金属或绝缘材料基材上的电镀涂层的厚度。 典型应用包括:钢上镍,钢上锌,铜锡,银铜或环氧树脂。

该技术简单地涉及去除涂层材料的小的,几乎不可见的区域。 衬底不受影响。 库仑法确保可靠和的结果。 EPK GalvanoTest 库伦法测厚仪设计为完全易用,GalvanoTest不需要特定的操作员技能,只有少的培训才能进行实际测量。 库仑法原理是测量多层系统的各个层的低成本方法,例如铬和镍加铜在钢上一个接一个地测量。 连接到MiniPrint数据打印机,GalvanoTest提供测量结果和统计的完整文档。 对于特定的测量分析或以后的参考,也可以打印去镀过程中的特征电压曲线

•可测实际应用的所有镀层

•利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层
•符合国际标准:DIN EN ISO 2177

电解测厚法:不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

 

 

 

 

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