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GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪

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GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪

GalvanoTest 2000库伦测厚仪是基本型号,可测量各种涂层/基底组合,无需任何附件。设计为易于使用,这种模式受推荐用于测量多层应用。

几乎测量任何电镀涂层/基底组合

适用于单层和多层涂层

使用库仑法原理,符合DIN 50 955和ISO 2177的去镀方法也适用于0.05微米的极薄涂层

库仑或阳极去镀技术用于测量几乎所有基材如钢,有色金属或绝缘材料基材上的电镀涂层的厚度。 典型应用包括:钢上镍,钢上锌,铜锡,银铜或环氧树脂。

统计计算

显示6种统计值:均值、标准偏差、变异系数、最大、最小值、读数个数

立即或稍后显示统计值

显示、打印年、月、日、时、分

用于外设的计算机接口:

MINIPRINT 微型打印机接口

RS-232,PC计算机接口

连接x-t计录仪模拟电压输出接口

笃挚代理出售的德国EPK GALVANOTEST2000库伦测厚仪主要是针对一些塑料、薄膜等行业的一些电镀件,可测实际应用的所有镀层,比如说,塑料上镀锌、镀银、镀铜等,GALVANOTEST 2000可以测试单层或多层镀层的厚度。利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层,符合国际标准:DIN EN ISO 2177,仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。

 GALVANOTEST2000库伦Elektrophysik测厚仪

GalvanoTest 2000,应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。
测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属,而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠,仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成,操作者不需要专业知识。

技术数据:

测量范围:大测量范围:0.05-75μm

测量范围:0.05~75μm
可以测量70种以上的镀层/基体组合
可以测量平面、曲面上的镀层
可以测量小零件、导线、线状零件
预置10种金属的测量参数:Cr铬、Ni镊、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn锡、Pb铅、Cd镉、Au金
用户可另设8种金属的测量参数
测量面积:0.25/4/8mm2
存储:2000个读数和统计值
统计功能:平均值、标准偏差、变异系数、大、小、读数个数
接口:RS232接口可连接计算机和打印机

 

笃挚仪器(上海)有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴,凭借种类齐全的产品资源和服务,涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备,努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战,共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。

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