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GalvanoTest 2000库仑测厚仪EPK测厚仪

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GalvanoTest 2000库仑测厚仪EPK测厚仪

 

GalvanoTest 2000库仑测厚仪EPK测厚仪

产品特点 
• 可测实际应用的所有镀层 
• 利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层 
• 符合国际标准:DIN EN ISO 2177 

   

涂层测厚仪GALVANOTEST 2000


德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 2000,运用先进的库仑电量分析原理。其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。 
测量时具有一定的破坏性,需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属,而基体不受影响。库仑法确保测量结果准确、可靠,仪器使用简便。测量操作由仪器的指令自主完成,操作者不需具备太多的专业知识也可以简单操作。
GALVANOTEST 2000保证所有测量和统计数据安全可靠,可打印数据和电压特征曲线。 

库仑镀层测厚仪GALVANOTEST 可以测量

2000

3000

可以测量70种以上镀层/基体组合

可以测量平面、曲面上的镀层

可以测量小零件、导线、线状零件

预置10种金属的测量参数:Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉、Au金(需提供样品确定)

 

预置9种金属的测量参数:Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。

 

用户可另设置8种金属的测量参数

 

用户可另设置1种金属的测量参数

 

库仑镀层测厚仪测量机构:

 

 

带循环泵

 

带气泵

 

库仑镀层测厚仪测量面积:

 

 

密封垫 8 mm2

 

密封垫 4 mm2

密封片 1 mm2

密封片 0.25 mm2(涂镀层面积几乎小得看不见)

 

电解杯 0.25-16 mm2 (可选件)

库仑镀层测厚仪测量参数zui优化调整:

 

 

除镀速度0.3-40 μm/分钟可调

根据金属和测量表面可直接调整系数

可用厚度标准样板校准

可调整终点电压,以抗干扰,适应镀层/基体之间的合金

GALVANOTEST的数据存储

 

 

可存储不同金属测量参数的数目

10

18

可存储的读数和统计值

2000

2000

仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。

库仑镀层测厚仪统计计算:

 

 

显示6种统计值:均值、标准偏差、变异系数、zui大、zui小值、读数个数

立即或稍后显示统计值

立即或稍后打印读数和统计值

 

显示、打印年、月、日、时、分

用于外设的计算机接口:

 

 

MINIPRINT 微型打印机接口

RS-232,PC计算机接口

连接x-t计录仪模拟电压输出接口

电解液饱和报警指示

 

测量的不确定性:

 

 

5%,在8mm2面积下,经校准

库仑镀层测厚仪电源:

 

 

110/220V,50/60HZ,10W

测量范围:

 

 

zui大测量范围:0.05-75μm

 

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