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涂镀层测厚仪minitest740探头内置外置可换,让用户使用更加灵活,涂镀层测厚仪minitest740更换不同探头既可测小工件,薄涂层,也可测厚涂层,zui大测量到15mm
MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂层测厚仪MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂层测厚仪
涂镀层测厚仪minitest740-优点:
-SIDSP使测量不受干扰,测值更加准确
-FN探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高准确度的特征曲线
-大存储量,能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出
-超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
-菜单指引操作,25种语言可选
-带IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
-可下载更新软件
SIDSP技术-*新技术,智能数字化的涂层测厚探头 
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪采用的SIDSP是什么?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界**的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界**技术生产。
MiniTest 720/730/740涂层测厚仪的SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您准确的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和准确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

主机技术参数
主机型号  | MINITEST 720  | MINITEST 730  | MINITEST 740  | 
探头类型  | 内置  | 外置  | 内置外置可换  | 
数据记忆组数  | 10  | 10  | 100  | 
存储数据量  | *多10,000个  | *多10,000个  | *多100,000个  | 
统计值  | 读值个数、*小值、*大值、平均值、标准方差、变异系数、组统计值(标准设置/自由配置)  | ||
校准程序符合际标准和规范  | ISO、SSPC、瑞典标准、澳大利亚标准  | ||
校准模式  | 出厂设置校准、零点校准、两点校准、三点校准,使用者可调节补偿值  | ||
限值监控  | 声、光报警提示超过限  | ||
测量单位  | μm,mm,cm;mils,inch,thou  | ||
操作温度  | -10℃~60℃  | ||
存放温度  | -20℃~70℃  | ||
数据接口  | IrDA 1.0(红外接口)  | ||
电源  | 2节AA电池  | ||
标准  | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840  | ||
体积  | 157mm x 75.5mm x 49mm  | ||
重量  | 约175g  | 约210g  | 约175g(内置)/230g(外置)  | 
探头
探头特性  | F1.5,N07,FN1.5  | F2  | F5,N2.5,FN5  | F15  | ||
F  | N  | F  | F  | N  | F  | |
测量范围  | 0~1.5mm  | 0~0.7mm  | 0~2mm  | 0~5mm  | 0~2.5mm  | 0~15mm  | 
使用范围  | 小工件,薄涂层  | 粗糙表面  | 标准探头,使用广泛  | 厚涂层  | ||
测量原理  | 磁感应  | 电涡流  | 磁感应  | 磁感应  | 电涡流  | 磁感应  | 
信号处理  | 探头内部32位信号处理(SIDSP)  | |||||
较准确度  | ±(1μm+0.75%读值)  | ±(1.5μm+0.75%读值)  | ±(5μm+0.75%读值)  | |||
重复性  | ±(0.5μm+0.5%读值)  | ±(0.8μm+0.5%读值)  | ±(2.5μm+0.5%读值)  | |||
低端分辨率  | 0.05μm  | 0.1μm  | 1μm  | |||
*小曲率半径(凸)  | 1.0mm  | 1.5mm  | 5mm  | |||
*小曲率半径  | 7.5mm  | 10mm  | 25mm  | |||
*小曲率半径  | 30mm  | 30mm  | 30mm  | |||
*小测量面积  | Φ5mm  | Φ10mm  | Φ25mm  | |||
*小基体厚度  | 0.3mm  | 40μm  | 0.5mm  | 0.5mm  | 40μm  | 1mm  | 
连续模式下测量速度  | 每秒20个读数  | |||||
单值模式下*大测量速度  | 每分钟70个读数 
  | |||||
         

