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EPK涂层测厚仪的测量原理和优点
更新时间:2019-04-19   点击次数:1175次
       EPK涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。
  EPK涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
  具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL);
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
  涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型:
  1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢,铁,银,镍。此种方法测量精度高。
  2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
  3.超声波测厚法:适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵,测量精度也不高。
  4.电解测厚法:此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
  5.放射测厚法:此处仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。
  国内目前使用为普遍的是第1/2两种方法。
  EPK涂层测厚仪的优点:
  零位稳定:
  所有EPK涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。
  无需校准:
  多数测厚仪除了校零外,还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度,激光测距仪的原理要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐,而且也会因标准片表面粗糙失效,增大系统误差。
  温度补偿:
  涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。

  
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