EPK涂层测厚仪的测量原理和优点

       EPK涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，即涂层厚度。
　　EPK涂层测厚仪具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
　　具有两种工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（APPL）；
　　设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
　　涂镀层测厚仪根据测量原理一般有以下五种类型：
　　1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。
　　2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。
　　3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。
　　4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。
　　5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。
　　国内目前使用为普遍的是第1/2两种方法。
　　EPK涂层测厚仪的优点：
　　零位稳定：
　　所有EPK涂层测厚仪测量前都要求校准零位，可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后，可以长时间保持零位不漂移，确保准确测量。
　　无需校准：
　　多数测厚仪除了校零外，还需要用标准片进行调校。测量某一范围厚度，激光测距仪的原理要用某一范围的标准片调校。主要是不能满足全范围内的线性精度。不仅操作烦琐，而且也会因标准片表面粗糙失效，增大系统误差。
　　温度补偿：
　　涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术，以保证不同温度下的测量精度。