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杭州思看科技
技术文章/ article
补偿试样形状(如强曲率)、电镀层、基板厚度等因素的影响;
通过半自动校准功能完成零点(底座)和最多3 个铁素体含量值的调整。
使用客户特定校准标准或手册中的校正因子;
需匹配试样的实际特性(如曲率、镀层厚度等)。
零点校准(底座调整):将测量系统归零,消除背景干扰;
多点校准:根据需求,校准至1-3 个铁素体含量值,建立线性或非线性校准曲线;
重新校准:可跳过已存储的单个校准步骤,提高效率。
连接方式:通过 USB-C 母头插孔连接;
校准存储:单个探头最多存储 100 次校准数据;
识别特征:探头名称以 D 开头,支持即插即用,校准数据与探头绑定。
连接方式:通过 DMP-F 探头适配器接入仪表;
校准存储:DMP-F 适配器最多存储 100 次校准数据,仅支持当前连接探头的校准数据调用;
识别特征:通过 10 针公插孔连接,探头名称包含 F。
校准数据绑定:
数字探头校准数据存储于探头自身,更换探头需重新校准或调用对应存储数据;
模拟探头校准数据存储于 DMP-F 适配器,需确保适配器与探头一一对应。
兼容性:
数字探头与模拟探头不可混用,需通过名称前缀(D/F)和接口类型区分;
校准前需确认探头类型及适配器连接状态。
数据管理:
建议定期备份探头存储的校准数据(尤其数字探头可通过 USB 导出);
长期未使用的探头需重新校准以确保精度。
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