泰勒霍普森粗糙度仪 S116 便携式技术规格与应用解析

一、结构设计与工业适应性

二、精密测量性能参数

1. 传感器系统
   采用差动电感式位移传感器，搭配金刚石测针（标准针尖半径 5μm，可选 2μm/10μm 规格），遵循 ISO 3274 标准的触针式测量原理。测针垂直分辨率达5nm，线性度误差≤±0.1% FS，满足 ISO 4287:2017 标准对 Ra 参数的计量级测量要求。
2. 测量范围与精度

• 示值误差：±(2%× 测量值 + 0.004μm)（符合 JJG 779-2015《触针式表面粗糙度测量仪》检定规程）

• 重复性误差：≤1.5%（基于 Ra≥0.2μm 标准样块测试）

• 粗糙度参数范围：Ra（算术平均粗糙度）0.005μm~200μm，Rz（十点高度粗糙度）0.02μm~800μm（需切换评估标准）

• 计量精度：

• 测量行程：0.25mm~25.5mm（连续可调），支持横向 / 纵向多路径扫描，适配 ISO 11562 标准的滤波算法（2CR / 高斯滤波可选）。

3. 深度测量模块
   集成50mm 行程电动升降装置与直角测量附件，具备70mm 垂直深度测量能力，可直接对盲孔、沟槽底部（最小孔径≥12mm）进行无损检测，无需辅助工装夹具，满足 ASME B46.1 标准对复杂几何特征的测量要求。