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泰勒DUO分体式粗糙度仪信息
更新时间：2025-06-25 点击次数：54次
技术参数
测量范围：粗糙度参数（Ra）up to 40μm，轮廓高度参数（Rz、Rv、Rp、Rt）up to 199μm。
测量重复性：2% of value+noise。
测量精度：5% of reading+0.1μm。
噪声：0.1μm。
量程：200μm。
行程：5mm。
取样长度：0.8mm+/-15%。
分辨率：0.01μm。
测量速度：2mm/sec。
极速测量：在实际生产质检环节，效率与准确性同等重要。泰勒粗糙度仪 DUO 搭载智能感应触发系统，当测针刚接触工件表面，仪器便会立即响应，瞬间启动自动采样程序，无需手动繁琐操作。整个测量流程行云流水，单次测量周期更是缩短至 5 秒，极大提升了检测效率。同时，仪器配备的三键式导航菜单设计精巧，操作逻辑简洁明了，即使是初次接触的操作人员，也无需经过长时间专业培训，便能快速上手，轻松完成参数设置、数据查看以及校准等一系列操作。无论是日常的批量质检，还是临时抽检，都能轻松应对，有效节省人力与时间成本。
智能校准：校准作为保证测量精度的关键步骤，泰勒粗糙度仪 DUO 提供了灵活且智能的校准方案。它支持自动软件校准与手动预设标准值校准双模式。自动软件校准功能，只需一键操作，仪器便能依据内置算法，自动对传感器和测量系统进行全面校准，整个过程无需人工过多干预，校准完成后结果会即时反馈；而手动预设标准值校准模式，则适用于特定标准要求或特殊使用场景，用户可根据需求，手动输入标准值进行校准。值得一提的是，无论采用哪种校准模式，校准状态都会实时同步显示在 LCD 显示屏上，方便用户随时掌握校准进度与结果，确保每一次测量数据都精准可靠。
