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更新时间：2025-08-22 
浏览次数：553X荧光射线测厚仪XDLM237核心功能：
适用于薄涂层的无损厚度测量和分析，包括低浓度涂层。
可对批量生产的零件和印刷电路板进行自动测量。
能无标准地分析涂层系统以及固体和液体样品（使用费舍尔基本参数法）。
可同时检测从氯（17）到铀（92）范围内的多达 24 种元素。
X荧光射线测厚仪XDLM237性能优势：
采用比例计数管实现高计数率，保证测量精确性。
孔径和初级滤波器可电动更换，能为每次测量创造优良条件。
具有出色的长期稳定性，显著减少校准工作。
配备快速、可编程的 X/Y 载物台，适合自动样品测量
应用领域
量产零件的测量
检测具有小测量点的薄涂层
电子和半导体行业中功能涂层的分析
印刷电路板等的自动测量
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