仪器用途

镀层厚度测量：可对单金属镀层、合金镀层、双镀层以及三镀层等进行厚度测量，广泛应用于电子、汽车、航空航天等行业，确保产品镀层质量符合标准。

材料分析：能够分析金属镀层、薄膜、电子元器件、液体、粉末等多种材料，确定其元素组成和含量。

工作原理：利用 X 射线荧光原理，当 X 射线照射到被测样品表面时，样品中的元素会吸收 X 射线能量并发射出特征荧光 X 射线。不同元素发射的荧光 X 射线能量不同，通过检测这些荧光 X 射线的能量和强度，结合仪器内置的校准曲线和算法，就可以精确测量出镀层的厚度以及元素组成。