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更新时间:2025-09-05
浏览次数:545仪器用途
镀层厚度测量:可对单金属镀层、合金镀层、双镀层以及三镀层等进行厚度测量,广泛应用于电子、汽车、航空航天等行业,确保产品镀层质量符合标准。
材料分析:能够分析金属镀层、薄膜、电子元器件、液体、粉末等多种材料,确定其元素组成和含量。
工作原理:利用 X 射线荧光原理,当 X 射线照射到被测样品表面时,样品中的元素会吸收 X 射线能量并发射出特征荧光 X 射线。不同元素发射的荧光 X 射线能量不同,通过检测这些荧光 X 射线的能量和强度,结合仪器内置的校准曲线和算法,就可以精确测量出镀层的厚度以及元素组成。
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