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泰勒霍普森轮廓仪LUPHOScan HD 信息

更新时间:2025-10-15      浏览次数:680

LUPHOScan HD 轮廓仪核心特点

1. 测量原理

基于 多波长干涉技术(MWLI®)

非接触式干涉扫描,适用于高精度表面形貌重建

2. 适用对象

旋转对称表面,包括:

非球面(aspheres)

球面(spheres)

平面(flats)

自由曲面(freeforms,需具备旋转对称性)

特别适合 手机镜头模具、大口径光学元件、陡峭曲面 等挑战性工件

3. 技术优势

超高坡度容忍度:可测量 高达90°的表面坡度,适用于极陡或深凹结构

材料普适性:支持 透明、镜面、不透明、抛光或研磨表面,无需特殊涂层

性能指标

高速测量:大幅缩短检测周期,提升产线效率

极低系统噪声:确保亚纳米级测量稳定性

重复性:Power(低频误差)与 PV(峰谷值)参数高度稳定,适合工艺控制与质量追溯

环境鲁棒性:系统结构坚固,对温度波动、振动等环境干扰不敏感

典型应用场景

光学镜头(尤其是手机、车载、AR/VR 镜头)模具检测

大口径天文镜、激光系统非球面镜制造

精密光学元件研发与量产质量控制

自由曲面光学(如照明、投影系统)的原型验证


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