LUPHOScan HD 轮廓仪核心特点

1. 测量原理

基于 多波长干涉技术（MWLI®）

非接触式干涉扫描，适用于高精度表面形貌重建

2. 适用对象

旋转对称表面，包括：

非球面（aspheres）

球面（spheres）

平面（flats）

自由曲面（freeforms，需具备旋转对称性）

特别适合 手机镜头模具、大口径光学元件、陡峭曲面 等挑战性工件

3. 技术优势

超高坡度容忍度：可测量 高达90°的表面坡度，适用于极陡或深凹结构

材料普适性：支持 透明、镜面、不透明、抛光或研磨表面，无需特殊涂层

性能指标

高速测量：大幅缩短检测周期，提升产线效率

极低系统噪声：确保亚纳米级测量稳定性

重复性：Power（低频误差）与 PV（峰谷值）参数高度稳定，适合工艺控制与质量追溯

环境鲁棒性：系统结构坚固，对温度波动、振动等环境干扰不敏感

典型应用场景

光学镜头（尤其是手机、车载、AR/VR 镜头）模具检测

大口径天文镜、激光系统非球面镜制造

精密光学元件研发与量产质量控制

自由曲面光学（如照明、投影系统）的原型验证