根据库仑电解法同时测量涂层厚度和电位差：

1、Fischer菲希尔Couloscope CMS测厚仪( 库仑测量系统)使用库仑方法测量镀层厚度。配备了一一个大的,易读取的液晶显示器,直观的菜单指引系统,该仪器理想的适用于测量几乎所有的金属基材或非金属基材上的金属镀层的厚度,包括多镀层。使用在不能进行或不需要进行非破坏性测试方法的场合。

2、Fischer菲希尔Couloscope CMS测厚仪准确地测量范围在0.05- 40 μm ( 0.002 - 1.6 mils )之间的金属镀层。该设备可以存储上百条预先定义好的镀层/基材应用,从单镀层,例如锌在钢上,直至三镀层,例如铬层在镍层再在铜层或塑料上。

3、Couloscope CMS STEP用来测定多层镍镀层系统中各个单个的镀层厚度以及各镀层之间的电化学电位差。在电镀工业中,对多层镍的测量变得越来越重要了,双层镍的测量已成为-种标准的操作。