菲希尔MP0测厚仪校准信息

更新时间：2025-10-31

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菲希尔（FISCHER）DUALSCOPE® MP0 测厚仪是一款集磁感应（用于磁性基材上的非磁性涂层）和电涡流（用于非磁性金属基材上的非导电涂层）两种测量原理于一体的便携式涂层测厚仪。为确保测量精度，需定期进行校准（包括正常化和校正）。以下是详细校准步骤和注意事项：

一、校准前准备

基材（底材）：未镀/未涂的原始材料，材质和形状应与被测工件一致。

标准片：已知厚度的标准膜片（如72.4 μm），通常仪器附带一片，建议使用与被测涂层厚度相近的标准片。

环境要求：避免强磁场、高温、潮湿环境。

二、校准流程（以铁基材为例）

1. 正常化（归零）

目的：消除基材本身对测量的干扰。

开机后，按屏幕对应“校正"位置的按钮。

选择“正常化"或系统自动进入。

将探头垂直放置在干净的铁基材上，测量 3–5 次（每次听到“滴"声后提起）。

按 OK 确认，屏幕提示“正常完成成功"后，再按一次 OK 完成归零。

2. 校正（使用标准片）

目的：将仪器读数校准至标准片标称值。

返回校正界面，再次测量同一铁基材 3–5 次（不可跳过）。

将标准片放在该基材上，测量 3–5 次。

按 “设置" 键，使用 ↑↓ 键将显示值调整为标准片标称厚度（如 72.4 μm）。

按 OK 确认。

若有第二片标准片（建议按从薄到厚顺序），重复上述步骤；若无，直接按 OK 跳过。

屏幕提示“校准成功完成"。

注意：铝基材（非铁基材）校准步骤相同，但需使用非磁性金属基材（如铝板）和对应的标准片。

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