欢迎访问笃挚仪器(上海)有限公司网站,我们竭诚为您提供合格产品和专业的服务!服务热线:021-58951091
产品分类·product

我们相信合格的产品是信誉的保证!

技术文章/ article

您的位置:首页  -  技术文章  -  泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度仪参数信息

泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度仪参数信息

更新时间:2025-11-11      浏览次数:393

Surtronic S116 支持多达 30 种粗糙度参数(包括 Ra、Rz、Rq、Rsk、Rku 等),兼容 ISO 4287/4288、ASME B46.1 等国际规范,适用于从研发实验室到生产一线的各类应用场景。其高分辨率传感器具备 0.001 μm 的垂直分辨力,配合长达 17.5 mm 的测量行程,可精准捕捉复杂轮廓细节,尤其适合高光洁度或高粗糙度表面的全面评估。

该仪器配备 5 英寸高清彩色触摸屏,搭载直观的图形化操作系统,支持实时轮廓显示、参数对比及趋势分析。用户可通过 Wi-Fi 或 USB 快速导出数据至 PC 或云端平台,无缝对接质量管理软件。内置 8 GB 存储空间,可容纳数万组测量记录,并支持 PDF 报告一键生成,极大提升工作效率。


扫码添加微信

  • 上海市浦东外高桥自贸区富特东三路526号5号楼311室
  • 联系电话:021-58951091
  • 公司邮箱:2840159840@qq.com

© 2026 笃挚仪器(上海)有限公司(www.elektrophysik.net.cn) 版权所有    沪ICP备16027846号-5

技术支持:化工仪器网    管理登陆    sitemap.xml

TEL:17321352692

扫码添加微信