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泰勒霍普森Surtronic S116粗糙度仪参数信息
更新时间:2025-11-11 点击次数:27次
Surtronic S116 支持多达 30 种粗糙度参数(包括 Ra、Rz、Rq、Rsk、Rku 等),兼容 ISO 4287/4288、ASME B46.1 等国际规范,适用于从研发实验室到生产一线的各类应用场景。其高分辨率传感器具备 0.001 μm 的垂直分辨力,配合长达 17.5 mm 的测量行程,可精准捕捉复杂轮廓细节,尤其适合高光洁度或高粗糙度表面的全面评估。
该仪器配备 5 英寸高清彩色触摸屏,搭载直观的图形化操作系统,支持实时轮廓显示、参数对比及趋势分析。用户可通过 Wi-Fi 或 USB 快速导出数据至 PC 或云端平台,无缝对接质量管理软件。内置 8 GB 存储空间,可容纳数万组测量记录,并支持 PDF 报告一键生成,极大提升工作效率。


