API激光干涉仪是实验室和工业环境中的高精度测量解决方案，专为长度、角度和直线度测量设计，精度可达纳米级，满足光学元件、半导体制造等领域的超精密需求。该设备基于激光干涉原理，通过检测光程差变化，实现非接触式测量，在短距离内（如1米）精度优于±0.1微米，确保微米级工件的精度。其核心特点包括：

• 高分辨率与稳定性：采用波长级测量技术，对微小位移敏感，适用于校准精密机床和光学系统。

• 环境适应性：内置温度补偿和减震设计，减少空气扰动和振动影响，保证数据一致性。

• 多功能应用：支持一维至三维测量，如评估光学镜面平整度或半导体晶圆定位，提升产品良率。

在实践场景中，API激光干涉仪成为研发和质量控制的基石。例如，在半导体制造中，它用于校准光刻机，确保芯片图案的精确复制；在科研领域，则助力光学实验，验证理论模型。其自动化数据采集功能简化操作流程，推动技术创新和产业升级。