轮廓仪代表了表面形貌测量技术的水平，专为高精度、高分辨率的二维/三维轮廓与粗糙度分析而设计。PGI 采用独特的相位光栅干涉原理结合接触式探针技术，能够同时实现纳米级垂直分辨率和毫米级测量范围，在光学元件、半导体、精密轴承及医疗器械等领域具有广泛应用。

PGI 轮廓仪的核心优势在于其超高精度与多功能性。其垂直分辨率可达0.1 nm，横向分辨率优于0.1 µm，可精确捕捉微小表面特征，如划痕、波纹度、台阶高度等。系统支持全自动测量流程，包括自动调平、自动对焦和路径规划，大幅减少人为误差。配合 Taylor Hobson 强大的 Metrology 软件平台，用户可进行复杂的形貌分析、滤波处理、参数计算及合规性评估，满足 ISO 11562、ISO 13565 等国际标准要求。

PGI 系列还提供多种探针配置和可选附件，适用于不同材质和几何形状的样品。其模块化设计便于升级与维护，支持与其他计量设备集成，构建完整的质量控制体系。