FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是德国 Helmut Fischer 公司开发的入门级 X 射线荧光 (XRF) 测量仪器，专为珠宝、钱币和贵金属的无损分析及镀层厚度测量设计，性价比高，操作简便。

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN215核心特点

参数详情

探测器Silicon PIN 二极管 (经济高效型)

X 射线管微聚焦钨阳极

测量范围氯 (17) 至铀 (92) 的元素

测量时间约 15 秒 (一键操作)

软件WinFTM®(支持 15 种语言)

分析功能贵金属成分分析、镀层厚度测量

校准内置校准，无需标准样品

菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN215工作原理

XAN215 通过X 射线激发样品，使其产生特征荧光辐射。仪器捕捉并分析这些辐射的能量和强度，从而确定样品中元素的种类和含量，实现无损成分分析和镀层厚度测量。