elektrophysikMiniTest 730膜厚仪特点鲜明：
-FN探头自动识别基体，使测量更迅速，避免操作错误
-温度补偿功能避免温度变化引起的错误
-生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
-大存储量，能存储10或100组多达100,000个读数
-读数和统计值能单独调出

Name: elektrophysikMiniTest 730膜厚仪
Brand: ElektroPhysik/德国EPK
Availability: InStock

联系电话：021-58951091

产品详情

elektrophysikMiniTest 730膜厚仪

MiniTest 730膜厚仪

标准配置：
带塑料手提箱，内含：

主机:

-MiniTest 720(内置探头)一个--或MiniTest 730（外置探头）一个--或MiniTest 740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准标准套装：含校准片和归零基板
-操作使用说明CD，可用选择语言：德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA供电电池

elektrophysikMiniTest 730膜厚仪
SIDSP探头技术参数：

探头特性	F1.5，N0.7，FN1.5		F2	F5，N2.5，FN5		F15
	F	N	F	F	N	F
测量范围	0-1.5mm	0-0.7mm	0-2mm	0-5mm	0-2.5mm	0-15mm
使用范围	小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用		粗糙表面	标准探头，使用广泛		厚涂层
测量原理	磁感应	电涡流	磁感应	磁感应	电涡流	磁感应
信号处理	探头内部32位信号处理（SIDSP）
度	±（1μm+0.75%读值）		±（1.5μm+0.75%读值）			±（5μm+0.75%读值）
重复性	±（0.5μm+0.5%读值）		±（0.8μm+0.5%读值）			±（2.5μm+0.5%读值）
低端分辨率	0.05μm		0.1μm			1μm
zui小曲率半径（凸）	1.0mm		1.5mm			5mm
zui小曲率半径（凹，外置探头）	7.5mm		10mm			25mm
zui小曲率半径（凹，内置探头）	30mm		30mm			30mm
zui小测量面积	Φ5mm		Φ10mm			Φ25mm
zui小基体厚度	0.3mm	40μm	0.5mm	0.5mm	40μm	1mm
连续模式下测量速度	每秒20个读数
单值模式下zui大测量速度	每分钟70个读数

MiniTest 730膜厚仪小巧，快捷，方便使用。德国高品质，测量准确，质量保证，欢迎选购！

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