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elektrophysik德国品质MiniTest 730膜厚仪

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elektrophysik德国品质MiniTest 730膜厚仪

 

MiniTest 730膜厚仪

标准配置:                               
带塑料手提箱,内含:  

主机:

-MiniTest 720(内置探头)一个--或MiniTest 730(外置探头)一个--或MiniTest 740主机(不含探头,有各种探头可选)
-校准标准套装:含校准片和归零基板
-操作使用说明CD,可用选择语言:德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA供电电池

elektrophysik德国品质MiniTest 730膜厚仪 
SIDSP探头技术参数:


探头 
特性

F1.5,N0.7,FN1.5

F2

F5,N2.5,FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP)

±(1μm+0.75%读值)

±(1.5μm+0.75%读值)

±(5μm+0.75%读值)

重复性

±(0.5μm+0.5%读值)

±(0.8μm+0.5%读值)

±(2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

zui小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

zui小曲率半径(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

zui小曲率半径(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

zui小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

zui小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下zui大测量速度

每分钟70个读数

 

MiniTest 730膜厚仪小巧,快捷,方便使用。德国高品质,测量准确,质量保证,欢迎选购!

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