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MINITEST4100-EPK高端测厚仪

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MINITEST4100-EPK高端测厚仪

 

MINITEST4100测厚仪是德国EPK研发的高端精密测量装置,数据处理功能更强,存储量更大,应用程序也更多。可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;可使用一片或二片标准箔校准。配有适用于多种应用的耐磨探头,适用于不同的基材检测,通用探头能自动基板检,快速精准无损测量,耐磨材质保证了探头的使用寿命。

ElektroPhysik概述:

 

60多年来,ElektroPhysik已经开发和生产了一系列用于表面处理的精密测量仪器。作为无损涂层厚度测量领域的先驱,ElektroPhysik与和国际标准化机构,研究机构和大学合作已成功推进了涂层厚度测量的全球标准化。许多强调了ElektroPhysik作为制造商的地位。

MINITEST4100测厚仪测量模式:
1、连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别大小值
2、连续测量模式中测量稳定后显示读数
3、浮点和定点方式数据传送
4、组内单值延迟显示
5、连续测量模式中显示小值

应用于无损测量:

0 - 50mm钢无磁性涂料
0 - 100mm有色金属绝缘涂层
10-200µM绝缘基材铜层
0 - 1600µM钢和有色金属粉末涂料

 

 

可选探头:

所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

F  型  探  头 :测量钢铁基体上的非磁性覆层 ,磁感应原理
N  型  探  头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 ,涡流法
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能,磁感应/涡流

MINITEST4100统计计算功能:

MINITEST4100其他功能:

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