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FISCHER上海代理金属镀层测厚仪XDLM231信息
更新时间:2025-04-30 点击次数:304次
菲希尔X-RAY镀层测厚仪用途:
菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231可用于测量所有金属镀层的厚度以及多镀层或者合金成分分析,也可以进行电解溶液含量成份分析,带有国家环保局豁免证书,无放射源设计,安全环保。菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231主要用于微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层测量、分析。
菲希尔X-RAY镀层测厚仪典型的应用领域有:
1、测量大规模生产的电镀零部件;
2、测量微小区域上的薄镀层;
3、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层;
4、全自动测量,如测量印刷线路板。