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XAN 220 金属分析 X 射线荧光测量仪信息

更新时间：2025-06-03      浏览次数：813
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220 是一款专为贵金属分析优化的用户友好型台式能量色散 X 射线荧光（EDXRF）测量仪，可对珠宝、硬币、贵金属及其合金的成分和涂层厚度进行快速无损分析。其创新设计与智能化功能融合，为实验室及生产现场提供精准、高效的检测解决方案。

核心优势：操作便捷性与技术先进性兼具

1. 人性化结构设计，试样定位精准高效

  • 自下而上测量架构：
    X 射线源与半导体探测器集成于仪器下腔室，通过透射式窗口支撑样品，测量方向从样品下方穿透，无需人工调整角度，尤其适合戒指、硬币等不规则形状样品的快速定位。

  • 高清视频显微镜辅助：
    内置带变焦功能与十字准线的视频显微镜，可实时放大样品细节（如珠宝镶嵌点、硬币齿纹），精准锁定微米级测量区域，避免因定位偏差导致的检测误差。

2. 智能化软件平台，全流程无缝管控

  • WinFTM® 专业分析软件：

    • 一键式操作：从测量参数设置（30/40/50kV 三档电压可调）、数据采集到多元素浓度 / 涂层厚度结果生成全程自动化，兼容固体、液体及多层涂层样品。

    • 可视化数据分析：以图表形式动态呈现元素占比（如金、银、铂含量）、涂层厚度分布（如铑镀层均匀性），支持历史数据对比，便于批量样品质量追溯。

    • 合规性报告生成：内置DIN ISO 3497（贵金属纯度测定）与ASTM B 568（镀层厚度测量）标准模板，自动匹配检测结果，简化第三方认证流程。


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